Sekundärjon masspektrometri
En masspektrometrisk teknik som används för mikroskopisk kemisk analys. En stråle av primärjoner med en energi på 5-20 kiloelektronvolt (keV) bombarderar en liten fläck på provets yta under ultrahöga vakuumförhållanden. Positiva och negativa sekundära joner som sprutas från ytan analyseras i en masspektrometer med avseende på deras mass-till-laddningsförhållande. Digital avbildning kan genereras från de sekundära jonstrålarna och deras intensitet kan mätas. Joniska bilder kan korreleras med bilder från ljus eller annan mikroskopi som ger användbara verktyg i studien av molekylära och läkemedelsåtgärder.
Förklaring på engelska
A mass-spectrometric technique that is used for microscopic chemical analysis. A beam of primary ions with an energy of 5-20 kiloelectronvolts (keV) bombards a small spot on the surface of the sample under ultra-high vacuum conditions. Positive and negative secondary ions sputtered from the surface are analyzed in a mass spectrometer in regards to their mass-to-charge ratio. Digital imaging can be generated from the secondary ion beams and their intensity can be measured. Ionic images can be correlated with images from light or other microscopy providing useful tools in the study of molecular and drug actions.
Synonym, svenska: Analyserande jonsond; SIMS
Synonym, engelska: Secondary Ion Mass Spectroscopy Microscopy; Mass Spectrometry, Secondary Ion; Secondary Ion Mass Spectrometry; SIMS Microscopy; Secondary Ion Mass Spectroscopy; Mass Spectroscopy, Secondary Ion; Spectroscopy, Mass, Secondary Ion; Secondary Ion Mass Spectrometry Microscopy
| Svensk term | Sekundärjon masspektrometri |
| Synonym på svenska | Analyserande jonsond; SIMS |
| Synonym på engelska | Secondary Ion Mass Spectroscopy Microscopy; Mass Spectrometry, Secondary Ion; Secondary Ion Mass Spectrometry; SIMS Microscopy; Secondary Ion Mass Spectroscopy; Mass Spectroscopy, Secondary Ion; Spectroscopy, Mass, Secondary Ion; Secondary Ion Mass Spectrometry Microscopy |
| Engelsk term | Spectrometry, Mass, Secondary Ion |
| MESH ID | D018629 |